ИННОВАЦИИ БИЗНЕСУ

Номер

13-003-06

Наименование проекта

Способ разбраковки партии интегральных запоминающих устройств по радиоционной стойкости

Назначение

Повышение качества разбраковки партии интегральных микросхем, содержащих запоминающие устройства, высокого быстродействия на группы с различными показателями радиоционной стойкости.

Рекомендуемая область применения

Испытание и контроль цифровых полупроводниковых интегральных микросхем высокого быстродействия и может быть использовано в цеховых условиях сборочного производства электронных средств при входном контроле показателей радиоционной стойкости

Описание

Результат выполнения конструкторско-технологической разработки.

Сущность состоит в методе разбраковки партии интегральных запоминающих устройств по радиационной стойкости к действию ионизирующего излучения, преимущественно по уровню бессбойной работы контрольного образца микросхем высокого быстродействия, до измерения уровня бессбойной работы микросхемы выборки охдлаждают до минимально допустимой температуры, при которой определяют для каждой из них значение времени сохранения соответствующего тестового информационного массива в элементах памяти запоминающего устройства при импульсном отключении напряжения питания. Корреляционную взаимосвязь данных для выборки микросхем устанавливают между значениями уровня бессбойной работы и значениями времени сохранения тестового информационного массива при нормальной и минимально допустимой температурах и затем отбирают из выборки контрольный образец с требуемым граничным значением уровня бессбойной работы и определяют для него численное граничное значение времени сохранения тестового информационного массива при минимально допустимой температуре. До проведения разбраковки каждую микросхему партии охлаждают до минимально допустимой температуры, при которой затем измеряют время сохранения тестового информационного массива, и при разделении партии отбирают в первую группу микросхемы, превышающие по стойкости контрольный образец, а во вторую группу микросхемы, не превышающие по стойкости контрольный образец, по результатам сопоставления их значения времени сохранения тестового информационного массива с граничным значением времени сохранения тестового информационного массива контрольного образца для данной температуры.

Для реализации основополагающих операций предлагаемого способа применяются контроллер, специальный источник питания и охлаждающее устройство.

Способ обеспечивает повышение достоверности результатов разбраковки за счет снижения относительной погрешности измерения времени сохранения тестового информационного массива контролируемых микросхем.  

Актуально в России и в мире

https://kolskiykray.ru мурманск и териберка туркомпания палм тур.

Преимущества перед известными аналогами

Отсутствие разрушающих методов контроля. Отсутствие применения сложных специальных устройств.

Стадия освоения

Опробовано в условиях опытной эксплуатации

Результаты испытаний

Технология обеспечивает получение стабильных результатов

Технико-экономический эффект

Высокая достоверность результатов разбраковки партии интегральных микросхем. Возможность проведения сопоставительного контроля отдельных партий однотипных микросхем различных производителей при наличии нормативно утвержденного эталонного образца.

Возможность передачи за рубеж

Возможна передача за рубеж

Дата поступления материала

30.11.2006