ИННОВАЦИИ БИЗНЕСУ

069-99

Предназначены для определения количественного содержания элементов в материалах и средах методом атомно-эмиссионного спектрального анализа.

Необходимость использования комплектов стандартных образцов (СО) ограничивает область практического применения методов аналитического контроля. Уменьшение числа СО, в свою очередь, приводит к сужению интервалов достоверного анализа относительно данных СО, так как с увеличением разности между количественными содержаниями элементов в пробе и СО наблюдается рост инструментальных погрешностей.

В результате того, что основной задачей любого количественного анализа является выделение максимально полной информации о состоянии контролируемых объектов по измеренным отображениям источников излучения. Отмеченные особенности атомно-эмиссионного анализа говорят о важности решения задач выполнения анализов без традиционного применения государственных стандартных образцов. В этом случае параметры образцов-эталонов определяются расчётным путём по измеренным параметрам контролируемых проб. Полученные таким образом расчётные параметры эталона будут являться оптимальными только относительно элемента данной пробы.

Обязательным условием создания подобных систем являются:

1. Наличие системы многопараметровых характеристик, учитывающих взаимное влияние контролируемых (внутренних) параметров и вносимых (внешних) силовых воздействий на процесс формирования сложного выходного сигнала;

2. Наличие замкнутых (изолированных) систем в виде элемента контролируемой пробы и элемента расчётного эталона.

Предлагается два метода создания рассмотренных систем: метод изменяющихся интервалов и метод корректирования расчётных параметров контрольных образцов-эталонов.

В первом случае производится последовательное изменение интервалов количественного содержания элементов относительно интервалов, соответствующих государственным стандартам, на основе использования многопараметровых функций l хэ и u хэ в виде:

l хэ=(2/p)*arctg{(p х/Р хрс)*[(sР-Р э)]}

u хэ={tg[(/2)(Р х/Р о)]/tg[(/2)(p хср/Р о]}*

*{tg[(/4)(p+p э)/Р о]/tg[(/2)(p-p э)/p o]}.

При этом, на каждом из интервалов добиваются выполнения условия

y=0, где y=(p х-Р хср)=p х, а y является отображением измеряемого параметра элемента пробы Р х в виде почернения, либо напряжения спектральной линии. В результате получается такой интервал, в котором его начало соответствует содержанию элемента в расчётном эталоне, а конец - содержанию элемента c x в исследуемой пробе.

В соответствии с другим методом корректирования расчётных параметров эталона выбирается параметр

(АХ) эх=0.35* С эаэ, где а э=f(С э).

Искомая величина С х будет определена, если известна многопараметровая функция u хэ. Задача его определения сводится к нахождению отображения линии сравнения расчётного эталона Р эср и линии расчётного эталона Р э:

Р эср=а i/2, тогда Р э=Р-Р эср,

где а i={p[r эх(6р-)+18р]}/[12p(1+r эх)], p=p х+Р хср,

где p, r эх и - параметры излучения спектральных линий.

Видно, что параметры контрольного эталона относительно элемента пробы определяются расчётным путём.

Технико-экономическая эффективность предложенного метода определения содержания массовых долей элементов в материалах и средах заключается в сведении к минимуму числа используемых стандартных образцов, расширении области практического применения высокоэффективных атомно-эмиссионных методов анализа, сокращении времени выполнения данных анализов. В результате повышаются экономичность и экспрессность анализов, расширяется область использования спектральных методов количественного анализа.

Разрешено к публикации в БД.